HAST老化试验箱最主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。

HAST老化试验箱产品说明：
最新优化设计,美观大方，做工精细；
对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；
采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口；
采用高效真空泵，使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态；
具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确；
多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示；
HAST老化试验箱可根据客户产品定制专用产品架；

HAST老化试验箱保护装置：
1.误操作安全装置：HAST试验箱锅门若未关紧则机器无法启动;
2.超压安全保护：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压;
3.超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源;
4.防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤;
5.手动安全保护排压伐;

HAST老化试验箱技术参数：

hast非饱和老化试验箱技术参数性能：
1、型号hast-25、内箱尺寸∮250×450D（mm）：
2、型号hast-35、内箱尺寸∮350×500D（mm）：
3、温度范围：RT+10℃—132℃
4、湿度范围：100％R。H
5、压力范围：0.0kg／㎝2～2.8kg／㎝2（相对压力，锅内压力），Jue对压力＝1.0kg／㎝2＋0.0kg／㎝2～3.0kg／㎝2（安全压力容量为4kg／㎝2＝1个大气压＋3kg／㎝2）
6、温度分布Jing度：±1.5℃
7。温度控制Jing度：±0.5℃
8、温度解析Jing度：0.1℃
9、加压时间：0.0kg／㎝2～2.0kg／㎝2约30分钟
10、内箱材质：采用SUS304耐寒耐热不锈钢板
11、外箱材质：采用SECC优质钢板，静电喷塑处理。
12、具备异常故障讯号警示功能
13、内箱尺寸Φ250×D450Φ300×D450Φ400×D450
14、温度范围100℃——132℃
15、湿度范围100%RH饱和蒸气
16、压力范围环境大气压+0——2.5kg/cm2环境大气压+0——2.5kg/cm2环境大气压+0——2.5kg/cm2
17、循环方式水蒸气自然对流循环

HAST老化试验箱技术规格：

HAST老化试验箱生产厂家