QFN28 0.4测试座 4×4mm 老化座 icsocket 产品用途:编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行老化、测试.适用封装:QFN28引脚间距0.4mm测试座:QFN28-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max，型号:QFN-28-0.4引脚间距(mm):0.4脚位:28芯片尺寸:4*4mm 对应国外型号790-61028-101T