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寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。在合适工作条件下器件使用寿命期内的故障率很低。电子元器件的寿命，与工作温度是有密切关系的。以电脑主板上常用的也常出故障的电解电容器为例，其寿命会受到温度的影响。
因此，应尽可能使电容器在较低的温度之下工作，如果电容器的实际工作温度超过了其规格范围，不仅其寿命会缩短，而且电容器会受到严重的损毁（例如电解液泄漏）。
寿命试验（MTBF）方法分为定时截尾试验，定数截尾试验，估算方法为：平均寿命的点估计值、单侧置信下限估计、双侧区间估计。高温工作寿命试验高温寿命试验为利用温度及电压加速的方法，藉短时间的实验来评估IC产品的长时间操作寿命。
MTBF寿命测试
一般常见的寿命实验方法有
BI（Burn-in）/EFR（Early Failure Rate）
HTOL（High Temperature Operating Life）
TDDB（Time dependent Dielectric Breakdown
对于不同的产品类别也有相对应的测试方法及条件，如
HTGB（High Temperature Gate Bias）
HTRG（High Temperature Reverse Bias）
BLT（Bias Life Test）