方法：高温加速data retention测试
目的：验证闪迪/西数颗粒是否符合jesd218规定的30度1年的断电数据保存能力
样品：
1.西数蓝盘3d 250g（target）
2.c2000pro 256g（紫光颗粒imft b16）
3.三星860evo 250g（ssv4）
4.东芝q200ex 240g（东芝2d 15nm mlc）
5.英特尔545s 256g（imft b16a）
6.闪迪x400 （闪迪1z nm 2d tlc）

测试条件：120度，34分钟13秒。等效于常温（30度）1年，具体加速公式请自查

烘箱烘烤完毕，准备校验

新出炉的固态，表面上还存有烘烤的余温，NAND间电气四溢，令人欲罢不能，敬请继续观看《风口浪尖上的固态之大佬评测》

坐等结果

我要全熟的

全是残血盘

上孜然，舌尖上的固态

intel 545s 256g pass
SanDisk x400 128g pass

西数blue 3d pass

说明闪迪/西数颗粒没有问题

Mark

前排