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西数冷数据读取低速问题分析阶段(一)11111

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西数冷数据读取低速问题分析阶段(一)
11111


IP属地:湖北来自Android客户端1楼2020-12-01 14:15回复
    方法:高温加速data retention测试
    目的:验证闪迪/西数颗粒是否符合jesd218规定的30度1年的断电数据保存能力
    样品:
    1.西数蓝盘3d 250g(target)
    2.c2000pro 256g(紫光颗粒imft b16)
    3.三星860evo 250g(ssv4)
    4.东芝q200ex 240g(东芝2d 15nm mlc)
    5.英特尔545s 256g(imft b16a)
    6.闪迪x400 (闪迪1z nm 2d tlc)


    IP属地:湖北来自Android客户端2楼2020-12-01 14:18
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      测试条件:120度,34分钟13秒。等效于常温(30度)1年,具体加速公式请自查


      IP属地:湖北来自Android客户端3楼2020-12-01 14:19
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        烘箱烘烤完毕,准备校验


        IP属地:湖北来自Android客户端4楼2020-12-01 14:24
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          intel 545s 256g pass
          SanDisk x400 128g pass



          IP属地:湖北来自Android客户端12楼2020-12-01 14:48
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            西数blue 3d pass


            IP属地:湖北来自Android客户端13楼2020-12-01 14:52
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              说明闪迪/西数颗粒没有问题


              IP属地:湖北来自Android客户端14楼2020-12-01 14:52
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                东芝q200ex pass


                IP属地:湖北来自Android客户端18楼2020-12-01 14:56
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                  目前来看,西数的问题(如果真的有)可能在于固件


                  IP属地:湖北来自Android客户端19楼2020-12-01 14:56
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                    三星860evo 250g(对nand写入1800次) pass


                    IP属地:湖北来自Android客户端21楼2020-12-01 15:06
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                      海康c2000pro 256g(紫光b16) pasd


                      IP属地:湖北来自Android客户端25楼2020-12-01 15:21
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                        结论:西数颗粒可以通过data retention测试,问题不在于西数颗粒本身素质


                        IP属地:湖北来自Android客户端27楼2020-12-01 15:29
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